บทความนี้นำเสนอแนวทางปฏิบัติสำหรับวิศวกรและช่างเทคนิคในการใช้เครื่องกำเนิดสัญญาณอนาล็อก (Analog Signal Generators) เพื่อทดสอบและวิเคราะห์คุณลักษณะของอุปกรณ์ RF และไมโครเวฟ ครอบคลุมตั้งแต่การวัดค่า Gain และ Distortion ไปจนถึงการทดสอบการปฏิเสธสัญญาณรบกวน (Blocker Rejection) และการจำลองสัญญาณนาฬิกา (Local Oscillator Substitution)
เนื้อหาเน้นย้ำถึงความสำคัญของการวัดค่าจุดบีบอัด (P1dB) และการทดสอบ intermodulation distortion (IP3) เพื่อประเมินความเป็นเชิงเส้นของแอมพลิฟายเออร์ นอกจากนี้ยังอธิบายถึงการทดสอบตัวรับสัญญาณภายใต้สภาวะที่มีสัญญาณรบกวนจริง โดยอาศัยเครื่องกำเนิดสัญญาณที่มีความเร็วในการสลับความถี่สูงและมีสัญญาณรบกวนเฟส (Phase Noise) ต่ำ เพื่อช่วยให้กระบวนการตรวจสอบความถูกต้องของฮาร์ดแวร์เป็นไปอย่างรวดเร็วและแม่นยำในทุกขั้นตอนของการวิจัยและผลิต
